Pressemitteilung

Mit der kürzlich zu Ende gegangenen EtherCAT Interoperability Testing Week in Japan bringt die EtherCAT Technology Group (ETG) ihre diesjährige Serie an Entwickler-Events im Online-Format zum Abschluss. Wie in den anderen Ländern auch, wurde die erste Veranstaltung dieser Art in Japan von den Teilnehmern sehr gut angenommen.

Über 60 interessierte Entwickler von EtherCAT-Produkten nahmen an den insgesamt zehn über die Woche verteilten Sessions teil, im Rahmen derer die optimale Nutzung der von der ETG angebotenen Tools sowie neue Geräteprofile für die Halbleiterindustrie diskutiert wurden. Während der Sessions präsentierten die Experten der ETG praxisorientiert entsprechende Lösungen, was bei den Teilnehmern auf sehr positive Resonanz stieß. Besonders gut kam an, dass das Team um Masanori Obata, Leiter des ETG-Büros Japan, die Präsentationsinhalte auch auf Japanisch aufbereitet hatte.

Guido Beckmann, der als Chairman des Technical Committee der ETG an der EtherCAT Interoperability Testing Week teilnahm, fasst die Veranstaltung wie folgt zusammen: „Die Webinars im Plenum sowie die individuellen Experten-Sessions haben uns gezeigt, dass dieses Event-Format eine gute Möglichkeit ist, Wissen und Ideen auszutauschen, mit den Entwicklern in die Diskussion zu gehen und so die EtherCAT-Technologie und deren Interoperabilität noch besser zu machen.“

Für das kommende Jahr ist zusätzlich zu den neu etablierten Online-Angeboten für Entwickler auch wieder ein physisches EtherCAT Plug Fest in Japan geplant. Alle Informationen dazu finden sich zu gegebener Zeit auf der Homepage der EtherCAT Technology Group.